IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC - SN74ABT8245DW

All prices are in EUR. Digi-Key Teilenummer 296-4093-5-ND Preisreduzierung Einheitspreis Gesamtpreis 1 5.82 5.82 25 4.774 119.35 100 4.3081 430.81 250 3.9588 989.70 500 3.60948 1804.74 1000 3.14375 3143.75 2500 3.02731 7568.27 5000 2.91088 14554.40 Hersteller-Teilenummer SN74ABT8245DW Beschreibung IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC Verfügbare Menge Value Added Item Non-Stock Bestellen Sie: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC - SN74ABT8245DW - Integrierte Schaltungen (ICs) Menge Artikel-Nr. Kundenreferenz 296-4093-5-NDSN74ABT8245DW Wenn die angeforderte Menge die in der Preistabelle angezeigten Mengen überschreitet, erscheint auf Ihrer Bestellung u.U. ein geringerer Einheitspreis. Sie können ein Preisangebot für Mengen anfordern, die größer sind als die in der Preistabelle angegeben Mengen. IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC - SN74ABT8245DW - Integrierte Schaltungen (ICs) Technische Information SN74ABT8245DW Hersteller Texas Instruments Kategorie Integrierte Schaltungen (ICs) Logiktyp Scan-Testgerät mit Bus-Transceiver Montagetyp Oberflächenmontage Verpackung / Behälter 24-SOIC (7,5 mm Breite) Versorgungsspannung 4,5 V ~ 5,5 V Verpackung Rohr Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C Bleifrei Status Lead Free RoHS Status RoHS Compliant Andere Namen SN74ABT8245DW SN74ABT8245DW 296 4093 5 ND 29640935ND 296-4093-5

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IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC - SN74ABT8543DW
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IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC - SN74BCT8245ADW
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IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC - SN74BCT8245ADWE4
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IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC - SN74BCT8245ADWR
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IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC - SN74BCT8245ADWRE4
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IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP - SN74ABT18640DGGR
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IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP - SN74ABT18245ADGGR
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IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP - SN74ABT18646PM
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